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用角差法检定大理石平板平面度的方法有几种

2019-09-30 17:24:39

大理石平板是用的石质材料制成的基准测量工具,对仪器仪表、工具、机械制件的检验,都是理想的基准面,大理石平板特别是用于高精度的测量方面。大理石平板经严格物理试验和选择的大理石料,结晶细密,质地坚硬。由于大理石系非金属材料,磁性反应,亦无塑性变形。大理石平板其硬度高,因此精度保持性好。

 

  一、水平仪法是将固有水平仪的桥板置于被测大理石平板上,按布点形式首尾衔接的移动桥板,逐个节距测出被测面上相邻两点连线相对测量基面即自然水平面的倾斜角,通过数据处理求出平面度误差值。水平仪的布点形式可以采用米字型,也可以采用网格型。此方法适用于大中型大理石平板平面度检定。

 

  大理石平板用角差法检定平面度的方法有几种?

 

  常用的大理石平板平面度检定方法有两大类:直接测量法和间接测量法。

 

  大理石平板直接测量法是直接获得平面各点偏差值或直接评定平面度误差值。这种测量方法可直接线值结果,因此也叫线差法。属于这类测量方法的有刀口直尺或平尺的垫塞法,标准平板的打表法,激光准直仪测量法。

 

  大理石平板间接测量法是利用水平仪或自准直仪在被测平面若干个测量截面上,以节距法进行测量,各被测点相对于测量基准(水平面或光轴直线)的倾斜角度,在取得结果时,将角值表示的量值换算为以线值表示的量值。这种方法从仪器器中读得的数值是角度值,因此也叫角差法。属于这类方法的有水平仪法和自准直仪法。

 

  二、自准直仪法是将固有的反射镜的桥板置于被测平板上(图36),按对角线布点形式移动桥板,逐个节距测出被测面上相邻两点连线相对测量基线(面 )的倾斜角,通过数据处理求出平面度误差值。自准直仪法常用米字型布点,若用网格型布点,则需要多的反射镜,调整比较麻烦。测量时将自准直仪放在大理石平板外牢固的支座上,固有反射镜的桥板按规定截面逐个节距进行移动如图37所示,测完一个界面在调整仪器测量个截面,直到测完规定截面为止。

 

  当被测大理石平板较大时, 可以将自准直仪放在平板上进行检定,为了减少自准直仪移动次数,可以增加一个反射镜,以改变瞄准方向如图38所示。将自准直仪放在位置1,就可测有标记1的三条截面,将自准直仪移至位置2、3、4,就可以测出标记2、3、4的各个截面,如果仪器带有两个反射镜,可以按下图方式测量,可以减少仪器装调次数,提高测量效率。


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